MEDIDORES DE ESPESOR POE RAYOS X

Medidores por fluorescencia universal de rayos X para las máximas exigencias entorno al análisis rápido y no destructivo de material y espesor de recubrimiento.

XAN 500

Portátil, sobremesa o en línea: el instrumento XAN®500, basado en la fluorescencia de rayos X, es el equipo XRF más versátil de Fischer.

XAN 220

Medidor por fluorescencia de rayos X para un análisis rápido y no destructivo de aleaciones de oro y plata.

GOLDSCOPE

Con la serie de equipos GOLDSCOPE, Fischer ofrece una solución para el ensayo no destructivo de aleaciones de oro y otros metales preciosos.

XDL

FISCHER Proporciona una amplia gama de instrumentos XRF específicos para la medición de espesores de recubrimiento y análisis de materiales en placas de circuito impreso (PCB) y oblea.

XDAL

Medidor por fluorescencia de rayos X con detector semiconductor y mesa de exploración con ejes X/Y/Z programables para la medición automática de espesores de recubrimiento y análisis de materiales.

XDV

Medidor por fluorescencia de rayos X para las máximas exigencias de alta resolución, con mesa de exploración con ejes X/Y/Z programables para la medición automática de capas muy finas y análisis de trazas.

XUV

Medidor por fluorescencia de rayos X con cámara de vacío, aparato Premium universal con múltiples posibilidades de medición.

Manual para su equipo

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